QFN16pin芯片老化测试座参数：本体尺寸：4*4mm引脚中心间距：0.5mmSocket壳体：合金+PEEK探针材料：铍铜探针镀层：镍金操作压力：2.0KGmin，与pin数成正比接触阻抗：50mΩmax耐压测试：700VACfor1minute绝缘阻抗：1000mΩ500VDC最大电流：1A使用温度：-45°C-+155°C机械寿命：大于15000次(机械测试)

标准品：QFP100pin芯片老化座产品特点及规格Socket本体：PEI+PEEKSocket结构：下压式-OpenTop探针材料：铍铜探针镀层：镍金操作压力：2.OKGmin,pin数越多压力越大接触阻抗：50mΩmax耐压测试：700VACforlminute绝缘阻抗：1000m500V DC最大电流：1A使用温度：-45°C-+125°C机械寿命：大于20000次(机械测试)

SPECIFICATION1绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V2、耐电压:For1MinuteAtAC700V3、接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)5、额定电流:1Amax/Pin.6、工作温度:-45°C~+135°C7、使用寿命:20,000Times(Mechanical)8、操作力:1.0KgMAX9、中心引脚间距:1.0mm10、适配芯片尺寸:4*4mm

SPECIFICATION1绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V2、耐电压:For1MinuteAtAC700V3、接触阻抗:100mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)5、额定电流:1Amax/Pin.6、工作温度:-45°C~+155°C7、使用寿命:20,000Times(Mechanical)8、操作力:1.0KgMAX9、中心引脚间距:0.5mm10、适配芯片尺寸:1.0825*1.1475mm

定制SSOP20pin-0.5mm芯片老化测试座参数：绝缘阻抗:1000mΩMin.AtDC500V耐电压:For1MinuteAtAC700V接触阻抗:30mΩMAX。at10mAand20mVMAX.(Initial)额定电流:1Amax/Pin.工作温度:-45°C~+155°C使用寿命:15,000Times(Mechanical)操作力:1.0KgMAX测试座结构:翻盖式测试座材料:PEI+PEEK