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芯片手测、ATE、老化测试:
芯片测试座的三种使用场景
的不同之处
2026-11-11 09:03:28
【文章】
手测、ATE、老化是三种被"取放者、设备、时长、温度"完整定义的场景:手动测试座为人优化,ATE测试座为机器人和百万次循环优化,老化测试座为时间和温度优化。结构特征——翻盖也好、opentop也好——只是实现手段,回答不了"这个座属于哪类用途"。选座先问四个问题,让场景归位,再让结构为规格服务;反过来先看结构下结论,三种场景里至少有两种会出问题。